Infrarot- IR -Spektroskopie

Fiir die Messung von IR-Spektren der PXDD und PXDF werden in der Literatur verschiedene Varianten beschrieben. 

Inzwischen gestattet die Verfiigbarkeit von sehr empfindlichen interferometrischen Techniken (z. B. Fourier Transform-Infrarot-(FT-IR)-Spektroskopie) eine Aufnahme von IR-Spektren bis z.T. in den unteren Nanogramm-Bereich pro Komponente. Bei der Anwendung der FT-IR-Technik sind wiederum verschiedene Untervarianten zu unterscheiden. 

Mit der diffusen Reflex-FT-IR-Technik (DRIFT-Technik) wurden die IR-Spektren aller Kongenere der C14DD in einer KBr-Matrix gemessen (eingesetzte Substanzmen-gen 10-200 ng, gelost in Hexan) [Gurka et al. 1985 1986]. 

Das Aussehen eines typischen IR-Spektrums fiir Kongenere der PXDD und PXDF ist in Abb. 3-3 am Beispiel des 2,3,7,8-Cl4DD dargestellt. Die Wellenzahlenbereiche der wichtigsten Absorptionsbanden in den IR-Spektren der PXDD und PXDF sind in der Tab. 3-14 zusammengefaBt. 

Generell besteht die Tendenz, daB aus einer Absorption bei hoheren Wellenzahlen fur eine bestimmte Bindung eine groBere Kraftkonstante und damit eine hohere Stabi-litat zu schlieBen ist. Diese Verschiebungen konnen zumeist durch elektronische Effekte (u. a. induktiver und mesomerer Effekt) sowie physikalische Effekte (Masse der Substituenten, Bindungswinkel) erklart werden. 

---